AES-8000 AC/DC-kaaripäästöspektrometri
Tyypillinen käyttökohde
1. Ag:n, Sn:n, B:n, Mo:n, Pb:n, Zn:n, Ni:n, Cu:n ja muiden alkuaineiden samanaikainen määritys geologisista näytteistä; sitä voidaan käyttää myös jalometallien jälkien havaitsemiseen geologisista näytteistä (erottelun ja rikastuksen jälkeen);
2. Useiden tai kymmenien epäpuhtausalkuaineiden määritys erittäin puhtaissa metalleissa ja erittäin puhtaissa oksideissa, jauhenäytteissä, kuten volframi, molybdeeni, koboltti, nikkeli, telluuri, vismutti, indium, tantaaliumi, niobium jne.;
3. Jälkien ja hivenaineiden analysointi liukenemattomissa jauhenäytteissä, kuten keramiikassa, lasissa, kivihiilituhkassa jne.
Yksi välttämättömistä geokemiallisten tutkimusnäytteiden tukianalyysiohjelmista
Ihanteellinen epäpuhtauskomponenttien havaitsemiseen erittäin puhtaissa aineissa
Ominaisuudet
Tehokas optinen kuvantamisjärjestelmä
Ebert-Fastic-optinen järjestelmä ja kolmilinssinen optinen reitti on otettu käyttöön hajavalon tehokkaaseen poistamiseen, halo- ja kromaattisten aberraatioiden poistamiseen, taustan vähentämiseen, valonkeräyskyvyn parantamiseen, hyvään resoluutioon, tasaiseen spektriviivan laatuun ja yhden metrin hilaspektrografin optisen reitin täydelliseen periytymiseen. Edut.
- Kompakti optinen rakenne ja korkea herkkyys;
- Hyvä kuvanlaatu, suora polttotaso;
- Käänteisen viivan dispersionopeus 0,64 nm/mm;
- Teoreettinen spektrinen resoluutio on 0,003 nm (300 nm).
Huipputehokas lineaarinen CMOS-anturi ja nopea tiedonkeruujärjestelmä
- UV-herkän CMOS-kennon ansiosta korkea herkkyys, laaja dynaaminen alue ja pieni lämpötilavaihtelu eivät vaadi pinnoitetta, eivät laajenna laitteen spektriä eikä aiheuta filmin ikääntymisongelmia.
- FPGA-tekniikkaan perustuva nopea moni-CMOS-synkroninen hankinta- ja tiedonkäsittelyjärjestelmä ei ainoastaan suorita analyyttisten elementtien spektriviivojen automaattista mittausta, vaan toteuttaa myös synkronisten spektriviivojen automaattisen kalibroinnin ja automaattisen taustan vähennyksen toiminnot.
AC- ja DC-kaariherätevalonlähde
Vaihto vaihto- ja tasavirtakaarien välillä on kätevää vaihtaa. Testattavien näytteiden mukaan sopivan herätetilan valitseminen parantaa analyysiä ja testituloksia. Valitse vaihtovirtatila johtamattomille näytteille ja tasavirtatila johtaville näytteille.
Elektrodin automaattinen kohdistus
Ylä- ja alaelektrodit siirtyvät automaattisesti määrättyyn asentoon ohjelmistoparametrien asetusten mukaisesti, ja herätteen valmistuttua elektrodit poistetaan ja vaihdetaan, mikä on helppokäyttöinen ja jolla on korkea kohdistustarkkuus.
Kätevä katseluikkuna
Patentoitu elektrodikuvausprojektiotekniikka näyttää kaikki viritysprosessit laitteen edessä olevassa tarkkailuikkunassa, mikä helpottaa käyttäjien tarkkailemaan näytteen viritystä virityskammiossa ja auttaa ymmärtämään näytteen ominaisuuksia ja virityskäyttäytymistä.
Tehokas analyysiohjelmisto
- Spektriviivojen reaaliaikainen automaattinen kalibrointi instrumentin ajautumisen vaikutuksen poistamiseksi;
- Tausta vähennetään automaattisesti inhimillisten tekijöiden häiriöiden vähentämiseksi;
- Spektriviivaerottelualgoritmin avulla vähennetään spektraalisten interferenssien vaikutusta;
- Monispektrimäärityksen automaattinen vaihto havaitsemissisällön laajentamiseksi;
- Kahden sovitusmenetelmän yhdistelmä parantaa näyteanalyysin tarkkuutta;
- Runsaasti spektriviivatietoja, mikä laajentaa analyysin sovellusaluetta;
- Erityinen analyysiohjelmisto, joka soveltuu erilaisiin näytteiden testausvaatimuksiin.
- Kätevä tietojen jälkikäsittelytoiminto lyhentää kokeellista prosessia ja tekee tietojenkäsittelystä joustavampaa
Turvallisuussuojaus
- Elektrodipidikkeen jäähdytyskiertoveden virtauksen valvonta voi estää elektrodipidikkeen korkean lämpötilan palamisen;
- Aktivoi kammion oven turvalukitus käyttäjien turvallisuuden suojaamiseksi.
Parametrit
| Optinen reittimuoto | Vertikaalisesti symmetrinen Ebert-Fastic-tyyppi | Nykyinen alue | 2–20 A (vaihtovirta) 2–15 A (tasavirta) |
| Tasohilaviivat | 2400 kappaletta/mm | Herätysvalonlähde | AC/DC-kaari |
| Optisen polton polttoväli | 600 mm | Paino | Noin 180 kg |
| Teoreettinen spektri | 0,003 nm (300 nm) | Mitat (mm) | 1500 (P) × 820 (L) × 650 (K) |
| Resoluutio | 0,64 nm/mm (ensimmäinen luokka) | Spektroskooppisen kammion vakiolämpötila | 35°C ± 0,1°C |
| Laskevan viivan dispersiosuhde | Synkroninen nopea tiedonkeruujärjestelmä, joka perustuu FPGA-tekniikkaan ja tarjoaa tehokkaan CMOS-kennon | Ympäristöolosuhteet | Huoneenlämpötila 15 °C–30 °C Suhteellinen kosteus <80% |
