AES-8000 AC/DC KAARISÄSTÖSPEKTROMETRI
Tyypillinen sovellus
1. Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu ja muiden alkuaineiden samanaikainen määritys geologisista näytteistä;sitä voidaan käyttää myös jalometallijäämien havaitsemiseen geologisista näytteistä (erottamisen ja rikastamisen jälkeen);
2. Useiden tai kymmenien epäpuhtausalkuaineiden määritys erittäin puhtaista metalleista ja erittäin puhtaista oksideista, jauhenäytteistä, kuten volframista, molybdeenistä, koboltista, nikkelistä, telluurista, vismutista, indiumista, tantaalista, niobiumista jne.;
3. Hivenaineiden ja hivenaineiden analyysi liukenemattomissa jauhenäytteissä, kuten keramiikassa, lasissa, kivihiilen tuhkassa jne.
Yksi geokemiallisten tutkimusnäytteiden välttämättömistä tukianalyysiohjelmista
Ihanteellinen erittäin puhtaiden aineiden epäpuhtauskomponenttien havaitsemiseen
ominaisuudet
Tehokas optinen kuvantamisjärjestelmä
Ebert-Fastic-optinen järjestelmä ja kolmen linssin optinen reitti poistavat tehokkaasti hajavalon, poistavat halo- ja kromaattisia aberraatioita, vähentävät taustaa, parantavat valonkeräyskykyä, hyvää resoluutiota, tasaista spektriviivan laatua ja perivät täysin yhden optisen polun. -metrinen hilaspektrografi Edut.
- Kompakti optinen rakenne ja korkea herkkyys;
- Hyvä kuvanlaatu, suora polttotaso;
- Käänteisen linjan dispersionopeus 0,64 nm/mm;
- Teoreettinen spektriresoluutio on 0,003 nm (300 nm).
Tehokas lineaarinen CMOS-kenno ja nopea kuvausjärjestelmä
- UV-herkän CMOS-anturin käyttäminen, korkea herkkyys, laaja dynaaminen alue, pieni lämpötilapoikkeama;ei tarvitse pinnoitetta, ei laitteen spektriä laajentavaa vaikutusta, ei kalvon ikääntymisongelmaa.
- Nopea moni-CMOS-synkroninen FPGA-tekniikkaan perustuva tiedonkeruu- ja tietojenkäsittelyjärjestelmä ei ainoastaan suorita analyyttisten elementtien spektrilinjojen automaattista mittausta, vaan myös toteuttaa synkronisten spektrilinjojen automaattisen kalibroinnin ja automaattisen taustan vähennyksen toiminnot.
AC- ja DC-kaarivirityksen valonlähde
On kätevää vaihtaa AC- ja DC-kaarien välillä.Eri testattavien näytteiden mukaan sopivan viritystilan valinta on hyödyllistä analyysi- ja testitulosten parantamiseksi.Valitse ei-johtaville näytteille AC-tila ja johtaville näytteille DC-tila.
Elektrodien automaattinen kohdistus
Ylempi ja alempi elektrodi siirtyvät automaattisesti määritettyyn asentoon ohjelmiston parametriasetusten mukaisesti, ja virityksen päätyttyä poista ja vaihda elektrodit, mikä on helppokäyttöinen ja jolla on korkea kohdistustarkkuus.
Kätevä katseluikkuna
Patentoitu elektrodikuvausprojektiotekniikka näyttää kaiken viritysprosessin instrumentin edessä olevassa havainnointiikkunassa, mikä on käyttäjien kätevää tarkkailla näytteen viritystä virityskammiossa ja auttaa ymmärtämään näytteen ominaisuuksia ja virityskäyttäytymistä. .
Tehokas analyysiohjelmisto
- Reaaliaikainen automaattinen spektriviivojen kalibrointi instrumentin ajautuman vaikutuksen eliminoimiseksi;
- Tausta vähennetään automaattisesti inhimillisten tekijöiden häiriön vähentämiseksi;
- Spektriviivan erottelualgoritmin avulla vähennä spektrihäiriöiden vaikutusta;
- Automaattinen monispektrimäärityksen vaihto tunnistussisällön alueen laajentamiseksi;
- Kahden sovitusmenetelmän yhdistelmä parantaa näyteanalyysin tarkkuutta;
- Runsaat spektriviivatiedot, jotka laajentavat analyysin sovellusaluetta;
- Erityinen analyysiohjelmisto, joka sopii erilaisiin näytteiden testausvaatimuksiin.
- Kätevä tietojen jälkikäsittelytoiminto lyhentää kokeellista prosessia ja tekee tietojenkäsittelystä joustavampaa
Turvallisuussuoja
- Elektrodipidikkeen jäähdytyskiertovesivirtauksen valvonta voi välttää elektrodipidikkeen palamisen korkeassa lämpötilassa;
- Aktivoi kammion oven turvalukitus käyttäjien turvallisuuden suojelemiseksi.
Parametrit
| Optisen polun muoto | Pystysymmetrinen Ebert-Fastic tyyppi | Nykyinen alue | 2-20A (AC) 2~15A (DC) |
| Taso ritilälinjat | 2400 kpl/mm | Herättävä valonlähde | AC/DC kaari |
| Optisen polun polttoväli | 600mm | Paino | Noin 180kg |
| Teoreettinen spektri | 0,003 nm (300 nm) | Mitat (mm) | 1500 (P) × 820 (L) × 650 (K) |
| Resoluutio | 0,64 nm/mm (ensimmäinen luokka) | Spekroskooppisen kammion vakiolämpötila | 35OC±0,1OC |
| Falling Line Dispersion Rate | Synkroninen nopea tiedonkeruujärjestelmä, joka perustuu FPGA-tekniikkaan korkean suorituskyvyn CMOS-kennolle | Ympäristöolosuhteet | Huoneen lämpötila 15 OC ~ 30 OC Suhteellinen kosteus <80 % |